Контакты
119454, ЦФО, Пр-т Вернадского, 78
Телефон:
+7 499 215-65-65 доб. 5140

Система оптической микроскопии ближнего поля Alpha 300s

(WITec, Германия), 2012 год

Alpha300 S — это удобный в использовании сканирующий оптический микроскоп ближнего поля (SNOM), который объединяет преимущества SNOM, конфокальной микроскопии и AFM (атомно-силовой микроскопии) в одном приборе. Переключение между различными режимами может быть легко сделано путем вращения объектива. В alpha300 S используются уникальные микропроизводимые кантилеверные датчики SNOM для оптической микроскопии с пространственным разрешением за пределами дифракционного предела.

Сканирующий оптический микроскоп ближнего поля WITec alpha300 S использует уникальный объектив ближнего поля. Он установлен в объективной башне и обеспечивает доступ к SNOM или AFM. Микропроизводимые датчики SNOM удерживаются магнитом на конце руки объектива, что позволяет одновременно наблюдать за кантилевером и образцом. Для быстрого выравнивания консоли консоль может перемещаться во всех трех измерениях с помощью встроенного высокоточного инерционного привода. Движения контролируются программным обеспечением WITec Control, которое также предоставляет удобные процедуры выравнивания. Объектив фокусирует не только лазерный луч возбуждения, но и лазер отклонения луча для дистанционного управления. Сфокусированная, ультраустойчивая оптика гарантирует измерения с низким уровнем шума без помех от двух лазерных систем. Используя стандартные кантилеверы AFM, alpha300 S включает в себя все возможности AFM.